[发明专利]图像检测器以及放射线检测系统有效
申请号: | 200710159713.2 | 申请日: | 2007-12-20 |
公开(公告)号: | CN101207143A | 公开(公告)日: | 2008-06-25 |
发明(设计)人: | 冈田美广;吉见琢也 | 申请(专利权)人: | 富士胶片株式会社 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;H01L23/522 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 朱丹 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种图像检测器,具备:并列配置的多个扫描布线;与该扫描布线交叉的多个数据布线;以矩阵状设置的薄膜晶体管,其与扫描布线和数据布线连接;以矩阵状设置的传感部,其与薄膜晶体管连接;和多个公共布线,其以矩阵状形成,向传感部共同施加偏压电压。通过隔着绝缘膜而设置的彼此不同的金属层形成扫描布线(101)、数据布线(3)和公共布线(102)的每一个。从而降低电子噪声,提高检测图像的画质。 | ||
搜索关键词: | 图像 检测器 以及 放射线 检测 系统 | ||
【主权项】:
1.一种图像检测器,具备:并列配置的多个扫描布线;与该扫描布线交叉设置,并且与形成有该扫描布线的金属层隔着绝缘膜,由不同的金属层所形成的多个数据布线;以矩阵状设置的薄膜晶体管,其与上述扫描布线和上述数据布线连接;以矩阵状设置的传感部,其与该薄膜晶体管连接,并且具有在被照射电磁波时产生电荷的半导体膜;和多个公共布线,其为了向上述以矩阵状设置的传感部共同施加偏压电压而设置,相对于上述传感部的半导体膜位于更下层,且与形成有上述扫描布线的金属层和形成有上述数据布线的金属层隔着绝缘膜,由不同的金属层所形成。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
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