[发明专利]用于闪存的寿命终止预测的方法和电子设备有效
申请号: | 200710163050.1 | 申请日: | 2007-09-29 |
公开(公告)号: | CN101159169A | 公开(公告)日: | 2008-04-09 |
发明(设计)人: | W·E·阿瑟顿;T·阿斯蒂加拉加;M·E·布朗 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司 |
主分类号: | G11C29/00 | 分类号: | G11C29/00;G11C16/00 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 | 代理人: | 于静;李峥 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明公开了一种用于确定闪存的寿命终止阶段的方法、电子设备和计算机可读介质。所述方法包括检测与位于电子设备上的闪存关联的至少一个生命周期事件。然后递增与所述生命周期事件关联的计数器。根据所述计数器,确定一个生命周期事件的总出现次数。还确定至少一个给定阈值的总出现次数。至少部分根据判定所述总出现次数是否超过至少一个给定阈值来确定所述闪存的当前生命周期阶段。将所述生命周期阶段与所述至少一个给定阈值关联。然后通知用户所述闪存的生命周期状态。 | ||
搜索关键词: | 用于 闪存 寿命 终止 预测 方法 电子设备 | ||
【主权项】:
1.一种使用电子设备确定闪存的寿命终止阶段的方法,所述方法包括:检测与位于电子设备上的闪存关联的至少一个生命周期事件;递增与所述生命周期事件关联的计数器;根据所述计数器确定所述至少一个生命周期事件的总出现次数;将所述至少一个生命周期事件的所述总出现次数存储在所述闪存上;判定所述总出现次数是否超过至少一个给定阈值;至少部分地根据判定所述总出现次数是否超过至少一个给定阈值来确定所述闪存的当前生命周期阶段,其中所述生命周期阶段与所述至少一个给定阈值关联;以及通知用户所述闪存的生命周期状态。
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