[发明专利]测试DAC/ADC的信号噪声比的方法及系统无效
| 申请号： | 200710163145.3 | 申请日： | 2007-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN101409557A | 公开（公告）日： | 2009-04-15 |
| 发明（设计）人： | 蔡欣学;魏诚文;方智仁;李正一 | 申请（专利权）人： | 义隆电子股份有限公司 |
| 主分类号： | H03M1/10 | 分类号： | H03M1/10;G01R29/26 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 寿 宁;张华辉 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明是有关一种测试DAC/ADC的信号噪声比的方法及系统。该测试DAC/ADC的信号噪声比的方法，包括以下步骤：输入交流图样信号至待测DAC/ADC路径；计算DAC/ADC路径输出信号的信号噪声比；及判断信号噪声比是否符合规格。该测试DAC/ADC的信号噪声比的系统包括：一数字信号产生单元，产生交流图样信号并输至待测的DAC/ADC路径；及一信号噪声比分析单元，以计算DAC/ADC路径的输出信号的信号噪声比，并判断信号噪声比是否符合规格。本发明测试DAC/ADC的信号噪声比的系统，可自行产生量测信号并分析量测结果，进而可降低操作复杂程度。本发明测试DAC/ADC的信号噪声比的方法及系统，由于量测信号提供及对量测结果分析均由系统本身来完成，因此实施起来较为方便。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 dac adc 信号 噪声 方法 系统 | ||
【主权项】：
1、一种测试DAC/ADC的信号噪声比的方法，其特征在于其包括以下步骤：输入交流图样信号至待测的DAC/ADC路径；计算所述DAC/ADC路径的输出信号的信号噪声比；以及判断所述信号噪声比是否符合规格。
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