[发明专利]自动测试方法及其自动测试装置有效
| 申请号： | 200710164077.2 | 申请日： | 2007-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN101413980A | 公开（公告）日： | 2009-04-22 |
| 发明（设计）人： | 廖彦维 | 申请（专利权）人： | 纬创资通股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/02;G01R31/04 |
| 代理公司： | 北京嘉和天工知识产权代理事务所 | 代理人： | 严 慎 |
| 地址： | 中国台湾台北县汐*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明为一种自动测试方法，用于一自动测试装置以测试电子装置的多个按键。该方法包括以下步骤：传送控制信号以导通第一缓冲器与第二缓冲器；藉由该第一缓冲器传送第一测试信号到该电子装置；藉由该第二缓冲器传送一第二测试信号到该电子装置；藉由该电子装置输出一正常的信号以代表该多个按键作用正常；以及使该第一缓冲器与该第二缓冲器断路。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 测试 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
1. 一种自动测试装置，用以测试一电子装置的多个按键，所述多个按键为一键盘矩阵的电路形式，所述自动测试装置包括：一微控制芯片；以及一按键连接电路，所述按键连接电路与所述微控制芯片及所述电子装置电性连接，所述按键连接电路包括：一第一缓冲器，所述第一缓冲器与所述多个按键电性连接；以及一第二缓冲器，所述第二缓冲器与所述多个按键电性连接，所述微控制芯片用以控制所述按键连接电路以达成以下机制：传送一控制信号以导通所述第一缓冲器与所述第二缓冲器；藉由所述第一缓冲器传送一第一测试信号到所述电子装置；藉由所述第二缓冲器传送一第二测试信号到所述电子装置；藉由所述电子装置输出一正常的信号以代表所述多个按键作用正常；以及使所述第一缓冲器与所述第二缓冲器断路。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于纬创资通股份有限公司，未经纬创资通股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200710164077.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
