[发明专利]接触和非接触式两用表面粗糙度测量系统无效
| 申请号： | 200710165438.5 | 申请日： | 2007-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN101140163A | 公开（公告）日： | 2008-03-12 |
| 发明（设计）人： | 孙正贵;李斌 | 申请（专利权）人： | 北京恒安通达科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/30 | 分类号： | G01B21/30;G01B21/20;G01B11/30;G01B11/24;G01B7/34;G01B7/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100081北京市海淀区中关*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种接触和非接触式两用表面粗糙度测量系统，包括测量传感器和计算机，其特征在于所述计算机通过测量及数据采集电路连接设置有两组测量传感器，该两组测量传感器分别为非接触式测量头和接触式测量头。该接触和非接触式两用表面粗糙度测量系统能够通过一台测量仪器实现接触和非接触式两种工程表而粗糙度测量方式，集中了二者的优点，扩大了测量对象的范围，造价低廉，能够提供精确和合理的测量数据，还可对两种测量结果进行实时对比和偏差校正，可适用于各种复杂的待测工件表面的工程粗糙度的二维或三维痕迹测量。 | ||
| 搜索关键词： | 接触 两用 表面 粗糙 测量 系统 | ||
【主权项】：
1.一种接触和非接触式两用表面粗糙度测量系统，包括测量传感器和计算机，其特征在于所述计算机通过测量及数据采集电路连接设置有两组测量传感器，该两组测量传感器分别为非接触式测量头和接触式测量头。
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