[发明专利]阵列测试器

摘要

本发明公开了一种阵列测试器。该阵列测试器确定形成在面板的前表面上的面板电极中是否存在缺陷，该阵列测试器包括：加载单元，其加载面板；测试单元，其包括透明测试板，该测试板上放置有从加载单元传送来的面板；卸载单元，将其上已完成缺陷测试的面板从测试单元传送到外部；测试模块，确定面板电极中是否存在电缺陷；以及静电消除单元，防止测试板与面板之间产生静电或者消除测试板与面板之间所产生的静电，其中测试模块包括：光源，该光源面对放置于测试单元上或上方的面板的前表面或后表面；以及调制器和缺陷检测单元，其相对于光源而依次布置，而面板位于光源与调制器和缺陷检测单元之间。

主权项

1.一种用于确定形成在面板的前表面上的面板电极中是否存在电缺陷的阵列测试器，包括：加载单元，包括加载板，所述加载板在将所述面板放置于所述加载板上的同时、或者在使所述面板与所述加载板的表面隔开预定间隔而悬浮的同时，加载并传送所述面板；测试单元，包括连接于所述加载板的透明测试板，将从所述加载板传送来的所述面板放置于所述透明测试板上或者使所述面板与所述测试板隔开预定间隔而悬浮，并且确定所述面板电极中是否存在电缺陷；卸载单元，包括连接于所述测试板的卸载板，将已确定其上是否存在缺陷的所述面板放置于所述卸载板上或者使所述面板与所述卸载板隔开预定间隔而悬浮，并且从所述测试板传送所述面板；测试模块，包括光源，所述光源面对放置于所述测试单元上或上方的面板的前表面或后表面；以及调制器和缺陷检测单元，其相对于所述光源依次布置，所述面板位于所述光源与所述调制器和所述缺陷检测单元之间，其中，所述测试模块根据穿过所述调制器的光线量来确定所述面板电极中是否存在电缺陷；以及静电消除单元，在所述测试板与所述面板之间供应正离子或负离子，以便防止所述测试板与所述面板之间产生静电或者消除所述测试板与所述面板之间所产生的静电。