[发明专利]存储体测试方法有效
| 申请号： | 200710165600.3 | 申请日： | 2007-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN101441588A | 公开（公告）日： | 2009-05-27 |
| 发明（设计）人： | 朱陈启源 | 申请（专利权）人： | 英业达股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F9/445 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 | 代理人： | 梁 挥;祁建国 |
| 地址： | 台湾省台北*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种存储体测试方法，该方法应用于一嵌入式系统中，是于嵌入式系统开机时，首先启动一只读存储器中的初始化程序，利用初始化程序而驱动一随机存取存储体，并将初始化程序本身复制于随机存取存储体的一第一区域中，接着由网络来源存入一测试程序至随机存取存储体的一第二区域中，于是初始化程序启动此测试程序，而开始对随机存取存储体上第一、二区域以外的一第三区域以循环方式进行测试，直到测试程序发现错误为止。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 测试 方法 | ||
【主权项】：
1. 一种存储体测试方法，应用于一嵌入式系统中，其特征在于，包括：于该嵌入式系统开机时，启动一初始化程序；利用该初始化程序驱动该嵌入式系统的一随机存取存储体；将该初始化程序本身复制于该随机存取存储体的一第一区域中；使该初始化程序加载一网络来源的一测试程序，并存入该随机存取存储体的一第二区域中；使该初始化程序启动该测试程序，而使该测试程序开始对该随机存取存储体上该第一、二区域以外的一第三区域进行测试。
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