[发明专利]记录关于一次写入记录介质的数据的方法有效
| 申请号： | 200710167067.4 | 申请日： | 2004-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN101145373A | 公开（公告）日： | 2008-03-19 |
| 发明（设计）人： | 黄盛凞;高祯完 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B20/18 | 分类号： | G11B20/18;G11B7/007;G11B7/0037 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人： | 郭鸿禧;韩素云 |
| 地址： | 韩国京畿道*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 一种将临时缺陷列表记录在一次写入记录介质上的方法，一种再现该临时缺陷列表的方法，一种用于记录和/或再现临时缺陷列表的设备，以及一次写入记录介质。将用于缺陷管理的临时缺陷列表记录在一次写入记录介质上的方法包括：将当数据被记录在一次写入记录介质上时被创建的临时缺陷列表记录在一次写入记录介质的至少一簇中，并且检验在该至少一簇中是否产生缺陷。随后，该方法包括：将原始记录在缺陷簇中的数据重新记录在另一簇中，并且将指示记录临时缺陷列表的该至少一簇的位置的指针信息记录在一次写入记录介质上。 | ||
| 搜索关键词： | 记录 关于 一次 写入 介质 数据 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于记录关于一次写入记录介质的数据的方法，该方法包括：将用于缺陷管理的临时缺陷列表记录在一次写入记录介质的多个簇中，并检验在至少一簇中是否产生缺陷；将记录在缺陷簇中的数据记录在替换簇中；将指示替换簇和除缺陷簇之外的所述多个簇的位置的信息记录在临时盘定义结构中。
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