[发明专利]顺序输出熔丝切断信息的半导体器件和测试系统无效
| 申请号： | 200710167101.8 | 申请日： | 2007-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN101165808A | 公开（公告）日： | 2008-04-23 |
| 发明（设计）人： | 李裕相;李真烨 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11C17/18 | 分类号： | G11C17/18;G11C29/44 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 邵亚丽 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 半导体器件包括多个熔丝，以及分别电连接到所述多个熔丝的多个锁存器电路。将所述多个锁存器电路配置为存储来自所述多个熔丝的相应熔丝切断信息，然后通过所述锁存器电路顺序传送所述熔丝切断信息，以输出指示所述多个熔丝的熔丝切断状态的顺序数据。 | ||
| 搜索关键词： | 顺序 输出 切断 信息 半导体器件 测试 系统 | ||
【主权项】：
1.一种半导体器件，包括：多个熔丝；多个锁存器电路，分别电连接到所述多个熔丝，将所述多个锁存器电路配置为存储来自所述多个熔丝的相应熔丝切断信息，然后顺序地将所述熔丝切断信息通过所述锁存器电路进行传送，以输出指示所述多个熔丝的熔丝切断状态的顺序数据。
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