[发明专利]用于检测涂层的系统和方法无效
| 申请号： | 200710169529.6 | 申请日： | 2007-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN101206189A | 公开（公告）日： | 2008-06-25 |
| 发明（设计）人： | 梁颖 | 申请（专利权）人： | 国际商业机器公司 |
| 主分类号： | G01N27/02 | 分类号： | G01N27/02;G12B21/22;G12B21/08 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 | 代理人： | 于静;杨晓光 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种用于检测物品(例如磁头)上涂层的存在的系统和方法。使物品表面上的点与导电物体接触。确定导电物体和物品表面上的一个或者多个点之间是否产生了电连接、导电物体和物品表面上的任何点之间进行电连接的程度等。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 涂层 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于检测磁头上涂层存在的方法，包含：使磁头表面上的多个点与导电物体接触；和确定在所述导电物体和所述磁头表面上的一个或者多个点之间是否产生了电连接。
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