[发明专利]晶圆结构及其形成方法有效
申请号: | 200710170282.X | 申请日: | 2007-11-14 |
公开(公告)号: | CN101183653A | 公开(公告)日: | 2008-05-21 |
发明(设计)人: | 温小周 | 申请(专利权)人: | 日月光半导体制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L23/485 |
代理公司: | 上海翼胜专利商标事务所 | 代理人: | 翟羽;刁文魁 |
地址: | 台湾省高雄*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种晶圆结构及其形成方法。首先提供具有接垫及第一保护层的晶圆,第一保护层覆盖在晶圆上,且具有第一开口暴露部分接垫。其次,在第一保护层上形成第二保护层,第二保护层具有第二开口暴露部分接垫及第一保护层。第二开口大于第一开口,两开口的边缘构成阶梯结构。接着,在接垫、阶梯结构及第二保护层上形成黏附层且在黏附层上形成光阻层,光阻层具有对应于接垫上且暴露部分黏附层的第三开口。接着,电镀阻障层覆盖在暴露的黏附层上并且在阻障层上形成湿润层。接着,移除光阻层以及未被阻障层覆盖的黏附层。然后,印刷焊料层于湿润层上。 | ||
搜索关键词: | 结构 及其 形成 方法 | ||
【主权项】:
1.一种晶圆结构的形成方法,包括:提供一晶圆,该晶圆具有一接垫及一第一保护层,该第一保护层覆盖于该晶圆上,且具有一第一开口暴露部分的该接垫;形成一第二保护层于该第一保护层上,该第二保护层具有一第二开口暴露部分的该接垫及该第一保护层,且该第二开口的尺寸大于该第一开口的尺寸,该第一开口及第二开口的边缘构成一阶梯结构;其特征在于:晶圆结构的形成方法还包括:形成一黏附层(adhesion layer)于该接垫、该阶梯结构及该第二保护层上;以及形成一光阻层于该黏附层上,该光阻层具有一第三开口,该第三开口对应于该接垫的上方,且暴露部分的该黏附层;利用电镀液电镀一阻障层(barrier layer)于该黏附层上,使该阻障层完全覆盖于暴露的该黏附层上,且该阻障层与该第三开口等宽;形成一润湿层(wetting layer)于该阻障层上;移除该光阻层;移除未被阻障层覆盖的该黏附层;以及印刷一焊料层于该湿润层上。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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