[发明专利]晶圆结构及其形成方法有效

专利信息
申请号: 200710170282.X 申请日: 2007-11-14
公开(公告)号: CN101183653A 公开(公告)日: 2008-05-21
发明(设计)人: 温小周 申请(专利权)人: 日月光半导体制造股份有限公司
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60;H01L23/485
代理公司: 上海翼胜专利商标事务所 代理人: 翟羽;刁文魁
地址: 台湾省高雄*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种晶圆结构及其形成方法。首先提供具有接垫及第一保护层的晶圆,第一保护层覆盖在晶圆上,且具有第一开口暴露部分接垫。其次,在第一保护层上形成第二保护层,第二保护层具有第二开口暴露部分接垫及第一保护层。第二开口大于第一开口,两开口的边缘构成阶梯结构。接着,在接垫、阶梯结构及第二保护层上形成黏附层且在黏附层上形成光阻层,光阻层具有对应于接垫上且暴露部分黏附层的第三开口。接着,电镀阻障层覆盖在暴露的黏附层上并且在阻障层上形成湿润层。接着,移除光阻层以及未被阻障层覆盖的黏附层。然后,印刷焊料层于湿润层上。
搜索关键词: 结构 及其 形成 方法
【主权项】:
1.一种晶圆结构的形成方法,包括:提供一晶圆,该晶圆具有一接垫及一第一保护层,该第一保护层覆盖于该晶圆上,且具有一第一开口暴露部分的该接垫;形成一第二保护层于该第一保护层上,该第二保护层具有一第二开口暴露部分的该接垫及该第一保护层,且该第二开口的尺寸大于该第一开口的尺寸,该第一开口及第二开口的边缘构成一阶梯结构;其特征在于:晶圆结构的形成方法还包括:形成一黏附层(adhesion layer)于该接垫、该阶梯结构及该第二保护层上;以及形成一光阻层于该黏附层上,该光阻层具有一第三开口,该第三开口对应于该接垫的上方,且暴露部分的该黏附层;利用电镀液电镀一阻障层(barrier layer)于该黏附层上,使该阻障层完全覆盖于暴露的该黏附层上,且该阻障层与该第三开口等宽;形成一润湿层(wetting layer)于该阻障层上;移除该光阻层;移除未被阻障层覆盖的该黏附层;以及印刷一焊料层于该湿润层上。
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