[发明专利]一种基于E PHEMT的单刀双掷开关无效

专利信息
申请号: 200710176282.0 申请日: 2007-10-24
公开(公告)号: CN101420055A 公开(公告)日: 2009-04-29
发明(设计)人: 徐静波;张海英;叶甜春 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01P1/15 分类号: H01P1/15;H01P1/10
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 周国城
地址: 100029*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及微波电路技术领域,公开了一种基于增强型(enhancement-mode)PHEMT的单刀双掷微波开关。该微波开关包括六个增强型场效应晶体管、六个限流电阻、三个隔直电容、五段微带线和两个电压控制端。这种基于E PHEMT的单刀双掷微波开关,采用串并联结构微波开关以及基于E/D HEMT的DCFL反相器,利用反相器的输入/输出信号分别控制两个传输路径的导通和关断,并获得了良好的微波开关性能。利用本发明,实现了正向电压(0~1V)控制开关状态,实现了正电源供电的控制电路实现单片集成。
搜索关键词: 一种 基于 phemt 单刀 开关
【主权项】:
1、一种基于增强型赝配高电子迁移率场效应晶体管E PHEMT的单刀双掷微波开关,其特征在于,该微波开关包括六个E PHEMT、六个限流电阻、三个隔直电容、五段微带线和两个电压控制端;所述第一电压控制端V1的正极通过第一限流电阻R1与第一增强型赝配高电子迁移率场效应晶体管E PHEMT1的栅极连接,通过第五限流电阻R5与第五增强型赝配高电子迁移率场效应晶体管E PHEMT5的栅极连接,通过第六限流电阻R6与第六增强型赝配高电子迁移率场效应晶体管E PHEMT6的栅极连接;所述第二电压控制端V2的正极通过第二限流电阻R2与第二增强型赝配高电子迁移率场效应晶体管E PHEMT2的栅极连接,通过第三限流电阻R3与第三增强型赝配高电子迁移率场效应晶体管E PHEMT3的栅极连接,通过第四限流电阻R4与第四增强型赝配高电子迁移率场效应晶体管E PHEMT4的栅极连接;所述E PHEMT1的源极直接与E PHEMT4的漏极连接,通过第二微带线L2与E PHEMT3的漏极连接,并通过第二微带线L2和第三微带线L3与第二隔直电容C2连接;所述第二隔直电容C2的另一端接第一信号输出端RF OUT1;所述E PHEMT2的源极直接与E PHEMT5的漏极连接,通过第四微带线L4与E PHEMT6的漏极连接,并通过第四微带线L4和第五微带线L5与第三隔直电容C3连接;所述第三隔直电容C3的另一端接第二信号输出端RF OUT2;所述E PHEMT1、E PHEMT2的漏极通过第一微带线L1与第一隔直电容C1连接;所述第一隔直电容C1的另一端接信号输入端RFIN;所述E PHEMT3、E PHEMT4、E PHEMT5、E PHEMT6的源极以及第一电压控制端V1、第二电压控制端V2的负极均接地。
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