[发明专利]缺陷数据实时采集装置及其方法、生产线实时数据采集系统有效
| 申请号： | 200710176496.8 | 申请日： | 2007-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN101158859A | 公开（公告）日： | 2008-04-09 |
| 发明（设计）人： | 丁国兴;杨祥春;王洪涛 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | G05B19/048 | 分类号： | G05B19/048 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 | 代理人： | 梁挥;祁建国 |
| 地址： | 518057广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种缺陷数据实时采集装置及其方法及生产线实时数据采集系统，所述系统包括分布式控制机、数据采集终端，其中该装置包括：通讯接口模块，用于为装置与分布式控制机之间的数据交互提供通讯控制及物理链路；MCU控制模块，用于对装置进行整体控制，读取缺陷数据，并通过通讯接口模块与分布式控制机进行数据交互；及数据处理模块，用于根据MCU控制模块下发的控制命令，对数据采集终端传送的缺陷数据进行实时处理并存储；系统对分布式控制机从MCU控制模块读取的缺陷数据进行分析，获知实时的生产信息。本发明可实时采集生产过程中的缺陷数据的信息，为生产管理人员提供实时的缺陷数据信息。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 数据 实时 采集 装置 及其 方法 生产线 系统 | ||
【主权项】：
1.一种缺陷数据实时采集装置，用于对生产线实时数据采集系统的缺陷数据进行实时采集处理，所述系统包括分布式控制机、数据采集终端，其特征在于，所述装置包括：通讯接口模块，用于与所述分布式控制机之间的数据交互提供通讯控制及物理链路；MCU控制模块，用于对所述装置进行整体控制，读取缺陷数据，并通过所述通讯接口模块与所述分布式控制机进行数据交互；及数据处理模块，用于根据所述MCU控制模块下发的控制命令，对所述数据采集终端传送的缺陷数据进行实时处理并存储；所述系统对所述分布式控制机从所述MCU控制模块读取的缺陷数据进行分析，获知实时的生产信息。
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