[发明专利]吸收率测量系统和方法有效
| 申请号： | 200710181381.8 | 申请日： | 2007-10-23 |
| 公开（公告）号： | CN101170368A | 公开（公告）日： | 2008-04-30 |
| 发明（设计）人： | 木南克规;井山隆弘;大西辉夫 | 申请（专利权）人： | 株式会社NTT都科摩 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00;G01R29/08 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李辉;吕俊刚 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及吸收率测量系统和方法。公开的根据本发明实施例的吸收率测量系统对在电介质中吸收的来自辐射源的电磁波的吸收率进行测量。所述系统包括：测量部，其在作为所述电介质内的二维面的观察面上对第一电场矢量进行测量；电场计算部，其根据在所述观察面上所测量的所述第一电场矢量的电场分量，计算除了所述观察面以外的点中的第二电场矢量，所述电场分量与所述观察面平行；以及计算部，其依据所计算的第二电场矢量来计算所述吸收率。 | ||
| 搜索关键词： | 吸收率 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种吸收率测量系统，其对在电介质中吸收的来自辐射源的电磁波的吸收率进行测量，所述系统包括：测量部，其在作为所述电介质中的二维面的观察面上对第一电场矢量进行测量；电场计算部，其根据在所述观察面上测量的所述第一电场矢量的电场分量，计算除了所述观察面以外的点中的第二电场矢量，所述电场分量与所述观察面平行；以及计算部，其依据所计算的第二电场矢量来计算所述吸收率。
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