[发明专利]一种探针塔、晶片测试承座与晶片测试系统有效
| 申请号： | 200710184808.X | 申请日： | 2007-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN101424705A | 公开（公告）日： | 2009-05-06 |
| 发明（设计）人： | 林源记;黎孟达 | 申请（专利权）人： | 京元电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073;G01R31/00;G01R31/26;G01R31/28 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 汤保平 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明揭露一种探针塔，用于晶片测试，包含：一圆形本体，配置有LCD测试区以及I/O测试区，且圆形本体具有一本体上座及一本体下座；多数群探针孔，配置在LCD测试区及I/O测试区，同时垂直贯穿本体上座及本体下座；以及多数群测试探针，配置在等探针孔内，以传递通过圆形本体的测试信号；多数群接地孔配置在I/O测试区；多数群接地针，以紧配方式嵌入于本体上座及本体下座其中之一的多数群接地孔，并电性导通至圆形本体，以将邻近的测试探针的噪声及漏电流接地；多数群间隔环，以绝缘材料制成，配置于探针孔的端部，以固定测试探针于圆形本体上，且提供测试探针及圆形本体的电性绝缘。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 探针 晶片 测试 系统 | ||
【主权项】：
1、一种探针塔，用于晶片测试，包含：一圆形本体，配置有LCD测试区以及I/O测试区，且该圆形本体具有一本体上座及一本体下座；多数群探针孔，配置在该LCD测试区及I/O测试区，同时垂直贯穿该本体上座及本体下座；以及多数群测试探针，配置在该等探针孔内，用以传递通过该圆形本体的测试信号；其特征在于，多数群接地孔，配置在该I/O测试区；多数群接地针，以紧配方式嵌入于该本体上座及本体下座其中之一的多数群接地孔，并电性导通至该圆形本体，用以将邻近的测试探针的噪声及漏电流接地；多数群间隔环，以绝缘材料制成，配置于该等探针孔的端部，用以固定该等测试探针于该探针孔内，且提供该等测试探针及该圆形本体的电性绝缘。
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