[发明专利]半导体集成电路装置和包括该装置的内部功率控制系统有效
申请号: | 200710186607.3 | 申请日: | 2007-11-14 |
公开(公告)号: | CN101197367A | 公开(公告)日: | 2008-06-11 |
发明(设计)人: | 松濑秀作 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司 |
主分类号: | H01L27/04 | 分类号: | H01L27/04;H03K5/26 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 | 代理人: | 王茂华 |
地址: | 美国纽*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明提供一种半导体集成电路装置以及包括该装置的内部功率控制系统。该装置不但能够在出现因制造工艺中的差异或者各种因素引起的性能初始改变时对将要提供至内部电路的功率电压动态地执行适当调节,而且在出现时间消逝的改变时也动态地执行适当调节。该装置包括:半导体衬底;振荡器,形成在半导体衬底上并用于输出具有取决于制造工艺的频率的监测时钟信号;内部电路,形成在半导体衬底上;频率比较电路,用于将监测时钟信号与具有预定频率的参考时钟信号进行比较,并用于输出与监测时钟信号频率和参考时钟信号频率之间的差值对应的差分信号;内部电源电路,用于为内部电路提供与频率比较电路输出的差分信号对应的内部功率电压。 | ||
搜索关键词: | 半导体 集成电路 装置 包括 内部 功率 控制系统 | ||
【主权项】:
1.一种半导体集成电路装置,包括:半导体衬底;振荡器,形成在所述半导体衬底上并用于输出监测时钟信号,所述监测时钟信号具有取决于制造工艺的频率;内部电路,形成在所述半导体衬底上;频率比较电路,用于将所述振荡器输出的所述监测时钟信号与具有预定频率的参考时钟信号进行比较,并用于输出与所述监测时钟信号频率和所述参考时钟信号频率之间的差值对应的差分信号;和内部电源电路,用于为所述内部电路提供与所述频率比较电路输出的所述差分信号对应的内部功率电压。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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