[发明专利]预测CT线性传变区的抗CT饱和采样值差动保护有效

专利信息
申请号: 200710190066.1 申请日: 2007-11-16
公开(公告)号: CN101183786A 公开(公告)日: 2008-05-21
发明(设计)人: 吴崇昊;刘小宝;戴魏 申请(专利权)人: 国电南瑞科技股份有限公司
主分类号: H02H7/26 分类号: H02H7/26
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司 代理人: 董建林
地址: 210061江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种预测CT线性传变区的抗CT饱和采样值差动保护,包括:检测CT线性传变区;根据当前已知的线性传变区位置,预测一个周波后的线性传变区位置;在预测的线性传变区内应用采样值差动判据进行判断;如果是区内故障,不存在线性传变区,保护动作;对于区外故障,如果发展到区内,采样值差动将动作出口;如果故障仍然在区外,则继续上述的检测线性传变区预测、预测线性传变区及在预测线性传变区进行采样值差动判断的保护判断流程,如此递推直至保护动作或者启动返回。本发明能够判断出CT饱和,在区外故障CT饱和转区内的情况下能够快速动作;不受饱和程度的影响;对转换故障时CT是否饱和没有限制;具有较高的动作灵敏性和可靠性。
搜索关键词: 预测 ct 线性 传变区 饱和 采样 差动 保护
【主权项】:
1.预测CT线性传变区的抗CT饱和采样值差动保护,其特征在于包括以下步骤:(1)、检测CT线性传变区;(2)、根据当前已知的CT线性传变区位置,预测一个周波后的线性传变区位置;(3)、在预测的线性传变区内应用采样值差动判据进行判断;(4)、如果是区内故障,不存在线性传变区,保护动作;(5)、对于区外故障,如果区外故障发展到区内,采样值差动将动作出口;如果故障仍然在区外,则继续上述的检测线性传变区预测、预测线性传变区及在预测线性传变区进行采样值差动判断的保护判断流程,如此递推直至保护动作或者启动返回。
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