[发明专利]X射线荧光分析的检测装置以及检测方法有效
| 申请号： | 200710194207.7 | 申请日： | 2007-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN101196482A | 公开（公告）日： | 2008-06-11 |
| 发明（设计）人： | 林玮翔;陈铭书 | 申请（专利权）人： | 科迈斯科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 任默闻 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种以X射线荧光分析来量测氯含量的检测装置，利用高压产生器接收来自外部的电流以产生高压电流，利用电压控制器将该高压电流控制为5至15千伏范围间的操作电压，光管受操作电压的激发而射出X射线，滤波器过滤来自光管的X射线以滤去噪声，并照射样品后激发释出荧光，检测器接收荧光而形成检量信号，再由运算处理单元比对检量样本，以运算出微量氯的含量。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 荧光 分析 检测 装置 以及 方法 | ||
【主权项】：
1.一种X射线荧光分析的检测装置，用以分析一样品中微量的氯，其特征在于，该检测装置进一步包含：一高压产生器，接收来自外部的电流以产生高压电流；一电压控制器，将所述的高压产生器所生的高压电流，控制为5千伏至15千伏的范围间的操作电压；一光管，受所述的电压控制器所产生的操作电压的电流所激发，而射出一X射线；一滤波器，过滤所述的光管所射出的X射线以滤去0.3千电子伏特至4千电子伏特范围间的噪声，并将过滤后的X射线照射所述的样品，使该样品受所述的X射线激发后释出一荧光；一检测器，接收所述的荧光，以形成一检量信号；以及一运算处理单元，根据所述的检量信号以比对一检量样本，通过比对的结果以运算出微量氯的含量。
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