[发明专利]半导体器件及树脂密封型半导体器件有效
申请号: | 200710194577.0 | 申请日: | 2003-04-12 |
公开(公告)号: | CN101197372A | 公开(公告)日: | 2008-06-11 |
发明(设计)人: | 田中顺;大谷美晴;尾形洁;铃木康道;堀田胜彦 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立制作所 |
主分类号: | H01L27/088 | 分类号: | H01L27/088;H01L23/532;H01L23/485;H01L23/488;H01L23/00;H01L23/58 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 曾祥夌;刘宗杰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 提供一种半导体器件,可防止元件整体的机械强度下降,减少沿布线传播的信号的延迟。构成各布线层(100)的第一绝缘层和第三绝缘层包含碳化氮化硅膜、碳化硅和/或氧化硅,下层布线层的第二绝缘层包含氧化硅,上层布线层的第二绝缘层包含添加氟的氧化硅和/或添加碳的氧化硅。使下层布线层的第二绝缘层的介电常数比上层布线层的第二绝缘层的介电常数小。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 树脂 密封 | ||
【主权项】:
1.一种半导体器件,包括:半导体衬底;在所述半导体衬底上形成的多个MOS晶体管;在所述多个MOS晶体管之上形成的双镶嵌结构布线的许多层,各层具有在第一绝缘层中形成的第一铜材料布线以及在第二绝缘层中形成的第二铜材料布线,所述第二布线在所述第一布线上且在所述第一绝缘层之上形成;在所述双镶嵌结构布线的最高层之上形成的第三绝缘层;以及在所述第三绝缘层之上形成的焊盘部;其中,所述双镶嵌结构布线的所述最高层的所述第二绝缘层具有比所述双镶嵌结构布线的所述最低层的所述第二绝缘层的介电常数高的介电常数。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
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H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的