[发明专利]光学位移传感器无效
申请号: | 200710199023.X | 申请日: | 2007-12-07 |
公开(公告)号: | CN101196569A | 公开(公告)日: | 2008-06-11 |
发明(设计)人: | 鸟井友成;花田智纪 | 申请(专利权)人: | 株式会社其恩斯 |
主分类号: | G01V8/10 | 分类号: | G01V8/10;G01D5/30 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 | 代理人: | 陈源;张天舒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的目的是提供一种能够正确检测待测目标的光学位移传感器,即使待测目标的位置变化大于其厚度。这种光学位移传感器包括:光投射装置,其用于把投射光指向待测目标;光接收装置,其用于接收由待测目标反射的投射光;位移量计算装置,其用于根据光接收装置的输出来计算待测目标的位移量;差值生成装置,其用于以固定的时间间隔来对位移量进行采样,并确定位移量值之间的差值;差值比较装置,其用于将差值与正阈值和负阈值进行比较;和目标检测处理装置,其用于根据比较结果输出表示待测目标存在与否的检测信号。该目标检测处理装置根据差值与正阈值的比较结果以及差值与负阈值的比较结果之一来开启检测信号,并且根据另一个检测结果来关闭检测信号。 | ||
搜索关键词: | 光学 位移 传感器 | ||
【主权项】:
1.一种光学位移传感器,包括:光投射装置,其用于把投射光指向待测目标;光接收装置,其用于接收由所述待测目标所反射的投射光;位移量计算装置,其用于根据所述光接收装置的输出来确定接收光点在光接收装置上的一维位置,并且根据确定的结果来计算所述待测目标的位移量;差值生成装置,其用于以固定的时间间隔来对所述位移量计算装置所计算得到的位移量进行采样,并确定到前一采样为止所获得的位移量代表值与本次采样所获得的位移量值之间的差值;差值比较装置,其用于将所述差值生成装置所确定的差值与正阈值和负阈值进行比较;以及目标检测装置,其用于根据所述差值比较装置的比较结果来判定所述待测目标的存在与否,并且输出表示判定结果的检测信号;其中所述目标检测装置根据差值与正阈值的比较结果以及差值与负阈值的比较结果之一来开启检测信号,并且根据所述比较结果中的另外一个来关闭检测信号。
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