[发明专利]抛光组合物有效

专利信息
申请号: 200710199423.0 申请日: 2004-09-30
公开(公告)号: CN101215447A 公开(公告)日: 2008-07-09
发明(设计)人: 松田刚;平野达彦;吴俊辉;河村笃纪;酒井谦儿 申请(专利权)人: 福吉米株式会社
主分类号: C09G1/18 分类号: C09G1/18;H01L21/304
代理公司: 上海市华诚律师事务所 代理人: 徐申民;涂勇
地址: 日本国爱知县清须*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的抛光组合物,用于形成半导体器件的配线的抛光,它含有特定的表面活性剂、氧化硅、选自羧酸及α-氨基酸中的至少一种、防腐蚀剂、氧化剂、水。使用该抛光组合物可抑制凹陷的发生。
搜索关键词: 抛光 组合
【主权项】:
1.一种抛光组合物,它用于形成半导体器件的配线的抛光,所述抛光用组合物含有:用激光衍射分散法测定的50%粒径D50为60~150nm的第1氧化硅、用激光衍射分散法测定的50%粒径D50为10~50nm的第2氧化硅、从羧酸及α-氨基酸中选择的至少一种、防腐蚀剂、表面活性剂、氧化剂、水。
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