[发明专利]PCIE 测试卡无效

专利信息
申请号: 200710200367.8 申请日: 2007-03-30
公开(公告)号: CN101276304A 公开(公告)日: 2008-10-01
发明(设计)人: 叶宗德;张俐莹 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G06F11/267 分类号: G06F11/267
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种PCIE测试卡,包括一控制模块、一总线仲裁器、一指示装置、至少两个不同规格的PCIE接脚及对应所述PCIE接脚的至少两个不同规格的PCIE总线,所述PCIE接脚用于与待测主板对应规格的PCIE插槽插接,所述控制模块通过所述PCIE总线与对应的PCIE接脚传输数据,所述总线仲裁器控制所述控制模块根据所述PCIE接脚插接的PCIE插槽的规格切换为相应的PCIE模式,所述指示装置与所述控制模块电性连接,用于显示测试是否通过。所述PCIE测试卡将多种规格的PCIE接脚集合,可插接不同规格的PCIE插槽进行测试,从而替代多个不同规格的PCIE测试卡,降低了测试成本。
搜索关键词: pcie 测试
【主权项】:
1. 一种PCIE测试卡,包括一控制模块、一总线仲裁器、一指示装置、至少两个不同规格的PCIE接脚及对应所述PCIE接脚的至少两个不同规格的PCIE总线,所述PCIE接脚用于与待测主板对应规格的PCIE插槽插接,所述控制模块通过所述PCIE总线与对应的PCIE接脚传输数据,所述总线仲裁器控制所述控制模块根据所述PCIE接脚插接的PCIE插槽的规格切换为相应的PCIE模式,所述指示装置与所述控制模块电性连接,用于显示测试是否通过。
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