[发明专利]单点对焦影像量测系统及方法

摘要

本发明提供一种单点对焦影像量测方法，该方法包括步骤：(a)在待测物体的影像上选择量测点；(b)控制影像量测机台移动，并发送命令给镭射控制器，使镭射控制器控制镭射头根据所选择的量测点的X轴、Y轴坐标值，在待测物体上寻找该量测点，并从所述镭射控制器中接收镭射头获取的该量测点到镭射头的距离h；(c)根据距离h及镭射头获取到该距离h时所在位置的坐标值，计算出该量测点的精确坐标值；及(d)根据量测点的精确的坐标值，控制影像量测机台上的Z轴移动，使影像量测机台上的镜头对该量测点对焦。本发明还提供一种单点对焦影像量测系统。本发明利用镭射头对待测物体进行扫描，寻找对焦点，速度快且精度高。

主权项

【权利要求1】一种单点对焦影像量测系统，该系统包括计算机及影像量测机台，所述影像量测机台安装有电荷耦合装置及镜头，所述计算机包括影像撷取卡，所述影像量测机台通过电荷耦合装置及镜头获取待测物体的影像，并将该影像传送至影像撷取卡中，其特征在于，该系统还包括：镭射控制器，该镭射控制器与计算机相连接；镭射头，所述镭射头安装于影像量测机台并与所述镭射控制器相连接；所述计算机包括：选择模块，用于在所述待测物体的影像上选择量测点；控制模块，用于根据上述所选择的量测点的X轴、Y轴坐标值发送命令给所述的镭射控制器，使镭射控制器控制镭射头在待测物体上寻找该量测点，并从所述镭射控制器中获取待测物体上该量测点到镭射头的垂直距离h；计算模块，用于根据上述获取的垂直距离h及获取到该垂直距离h时镭射头所在位置的Z轴坐标值，计算出该量测点的Z轴坐标值，进而得到该量测点的精确X、Y、Z轴坐标值；及对焦模块，用于根据上述量测点的精确X、Y、Z轴坐标值，控制影像量测机台移动，使所述的镜头对量测点对焦。