[发明专利]偏心测量装置及测量仪器无效
| 申请号： | 200710201733.1 | 申请日： | 2007-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN101393073A | 公开（公告）日： | 2009-03-25 |
| 发明（设计）人： | 胡璧辉 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种偏心测量装置，用于测量光学元件的偏心度，包括：一个基台，至少两个承靠元件，及至少两个用于夹持所述光学元件的夹持元件，所述承靠元件及夹持元件可移动地设置于所述基台上，所述偏心测量装置进一步包括一个用于承载所述光学元件的载盘，所述载盘承靠于所述至少两个承靠元件上，所述载盘设有一通孔，所述通孔允许对所述光学元件的用于透光成像的光学部进行测量。本发明还涉及一种包括所述偏心测量装置的测量仪器。 | ||
| 搜索关键词： | 偏心 测量 装置 仪器 | ||
【主权项】：
【权利要求1】一种偏心测量装置，用于测量光学元件的偏心度，包括：一个基台，至少两个承靠元件，及至少两个用于夹持所述光学元件的夹持元件，所述承靠元件及夹持元件可移动地设置于所述基台上，其特征在于，所述偏心测量装置进一步包括一个用于承载所述光学元件的载盘，所述载盘承靠于所述至少两个承靠元件上，所述载盘设有一通孔，所述通孔允许对所述光学元件的用于透光成像的光学部进行测量。
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