[发明专利]光图像计测装置无效
申请号: | 200710301393.X | 申请日: | 2007-12-25 |
公开(公告)号: | CN101234015A | 公开(公告)日: | 2008-08-06 |
发明(设计)人: | 木川勉;冈田浩昭;林健史;塚田央;福间康文 | 申请(专利权)人: | 株式会社拓普康 |
主分类号: | A61B3/00 | 分类号: | A61B3/00;G01B9/02 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 寿宁;张华辉 |
地址: | 日本东京*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种可以取得被测定物体的目标深度位置的图像的技术。眼底观察装置(光图像计测装置)(1)将低相干光(L0)分割成朝向眼底(Ef)的信号光(LS)以及朝向参照镜(174)的参照光(LR),使经由眼底(Ef)的信号光(LS)和经由参照镜(174)的参照光(LR)两者重叠以产生干涉光(LC),并检测该干涉光(LC)来形成OCT图像。分析部(231)分析形成的OCT图像,并对在图框(F)内的该OCT图像的位置进行指定。控制部(210)基于指定的位置,控制参照镜驱动机构(243)来移动参照镜(174),以使得图像形成部(220)所新形成的眼底(Ef)的OCT图像被配置在图框(F)内的指定位置。 | ||
搜索关键词: | 图像 装置 | ||
【主权项】:
1、一种光图像计测装置,其特征在于:包括:光源,输出低相干光;干涉光产生元件,将前述输出的低相干光分割成导向被测定物体的信号光以及导向参照物体的参照光,并使经由前述被测定物体的信号光和经由前述参照物体的参照光重叠,以产生干涉光;变更元件,改变前述信号光和前述参照光的光路径长度差;检测元件,检测前述产生的干涉光;图像形成装置,基于前述检测元件的检测结果,在预定的图框内形成前述被测定物体的图像;分析元件,分析前述形成的图像,对在前述预定图框内的该图像的位置进行指定;及控制元件,基于前述指定的位置,控制前述变更元件,改变前述光路径长度差,以使得前述图像形成元件所新形成的前述被测定物体的图像被配置在前述预定图框内的指定位置。
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