[实用新型]多用式调阻测试探针无效
| 申请号： | 200720038852.5 | 申请日： | 2007-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN201083763Y | 公开（公告）日： | 2008-07-09 |
| 发明（设计）人： | 张学忠 | 申请（专利权）人： | 苏州和普激光设备开发有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 苏州创元专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 范晴 |
| 地址： | 215011江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种多用式调阻测试探针，包括探针头和基体；其特征在于一绝缘连接体一端与探针头连接，另一端与设置在基体上的高度微调机构的活动端连接；基体底部固定磁块。它通过磁性吸附于探针板上，可相对于探针板活动，具有很高的空间自由度调节性能，能够灵活反复使用，节省了测试不同基片时的探针用量，节约了厂家成本。同时它的高度调节机构有效防止测试针端头接触移动中的基片而被碰坏的情况发生，提高了探针的工作寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 多用 式调阻 测试 探针 | ||
【主权项】：
1.一种多用式调阻测试探针，包括探针头和基体(1)，其特征在于：还包括一绝缘连接体(2)，绝缘连接体(2)的一端与探针头连接，另一端与设置在基体(1)上的高度微调机构的活动端连接，基体(1)的底部固定磁块(3)。
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