[实用新型]IC测试治具

摘要

一种IC测试治具，包括一组探针以及压板机构，其特征在于：还包括一定位板，该定位板由上板体和下板体拼合构成，定位板上设有一组贯穿上板体和下板体的探针容纳孔；各探针由上探头、下探头、套管以及至少一弹簧构成；所述上探头的头部朝上置于套管的上端，下探头的头部朝下置于套管的下端，套管内上探头和下探头间设置至少一弹簧，以此构成双头探针结构；所述探针对应插设于各探针容纳孔中，上探头的头部露于探针容纳孔的上端口外供IC的引脚接触电连接，下探头的头部露于探针容纳孔的下端口外供测试板的连接脚接触电连接。本实用新型更换探针方便，通用性强、使用灵活，并且，还可采用屏蔽性材料制作定位板达到抗干扰的效果，使测试结果准确度更高。

主权项

1.一种IC测试治具，包括一组探针[1]以及作用于IC[2]和测试板[3]间的压板机构[4]，其特征在于：还包括一定位板[5]，该定位板[5]由上板体[6]和下板体[7]拼合构成，定位板[5]上设有一组贯穿上板体[6]和下板体[7]的探针容纳孔[8]；各探针[1]由上探头[9]、下探头[10]、套管[11]以及至少一弹簧构成；所述上探头[9]的头部朝上置于套管[11]的上端，下探头[10]的头部朝下置于套管[11]的下端，套管[11]内上探头[9]和下探头[10]间设置至少一弹簧，以此构成双头探针结构；所述探针[1]对应插设于各探针容纳孔[8]中，上探头[9]的头部露于探针容纳孔[8]的上端口外供IC[2]的引脚接触电连接，下探头[10]的头部露于探针容纳孔[8]的下端口外供测试板[3]的连接脚接触电连接；并且，所述套管[11]外周上设有限位块[12]；上板体[9]和下板体[10]间在探针容纳孔[8]的孔壁上对应限位块[12]退让设有一容纳空间[13]，限位块[12]与容纳空间[13]配合构成防脱限位结构。