[实用新型]一种绝缘测试探针无效

专利信息
申请号: 200720108338.4 申请日: 2007-04-19
公开(公告)号: CN201037848Y 公开(公告)日: 2008-03-19
发明(设计)人: 沈芳珍;周燕明 申请(专利权)人: 沈芳珍
主分类号: G01R1/067 分类号: G01R1/067
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 315336浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 一种绝缘测试探针,包括针体,所述针体的前端为用于接触测试点的探测头,所述的针体上包裹有绝缘层,所述绝缘层前方的针体形成探测头所在的探测端,所述绝缘层后方的针体形成连接导线的连接端。探测头根据测试点的具体情况可设计为圆锥状、圆弧状、齿口状等。本实用新型在使用时,测试探针探测端的探测头接触测试点,测试探针的连接端连接导线,通过导线将测试探针和测试机连接起来。由于针体上包覆有绝缘层,因此既使在测试测试点较密集的检测件时相互间也不会产生干扰。
搜索关键词: 一种 绝缘 测试 探针
【主权项】:
1.一种绝缘测试探针,包括针体,所述针体的前端为用于接触测试点的探测头,其特征在于:所述的针体上包裹有绝缘层,所述绝缘层前方的针体形成探测头所在的探测端,所述绝缘层后方的针体形成连接导线的连接端。
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