[实用新型]9线金属封装大功率电路元器件老化测试插座

摘要

本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置，尤其能对9线金属封装大功率电路元器件可靠性进行高温老化试验和测试的插座。按照9线单列型的结构设计和尺寸要求，将插座设计成三大组成部分，即插座体、接触件和锁紧装置。插座体由座、盖组成，选用进口的耐高温型特种高温工程塑料，经高温注塑成型，用于被试器件的定位安装；接触件以铍青铜材料经线切割切割成型，采用与被试器件引出线相对应、纵向排列、自动锁紧和零插拔力结构安装于插座体座中；锁紧装置采用双滑块紧结构，由上滑块、下滑块和手柄组成，当手柄受力向上翻转至水平位置时，上下滑块发生相对运动产生位移，接触件自动锁紧被试器件。通电后进行高温老化试验和性能测试，具有接触电阻小、一致性好、可靠性高、零插拔力、表面耐磨和方便使用的优点，大大提高了插座的可靠性和使用寿命。

主权项

1. 一种适用于9线金属封装大功率电路元器件老化测试插座，其特征是：它是由插座体、接触件和锁紧装置三个部分统一组成，插座体由座和盖组成，插座体选用进口的耐高温型特种高温工程塑料，经高温注塑成型工艺技术制造而成，接触件与被试器件引出线相对应并安装于插座体的座中，锁紧装置安装于插座体中。