[实用新型]用于集成电路测试的装置无效
| 申请号： | 200720118476.0 | 申请日： | 2007-02-09 |
| 公开（公告）号： | CN201021933Y | 公开（公告）日： | 2008-02-13 |
| 发明（设计）人： | 段超毅;王国华;陶杉 | 申请（专利权）人： | 段超毅;王国华;陶杉 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/073 |
| 代理公司： | 深圳市睿智专利事务所 | 代理人： | 陈鸿荫 |
| 地址： | 518101广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种用于集成电路测试的装置，包括压紧部件(1)、探针定位板(2)和探针，该探针定位板(2)上有与被测集成电路(4)各导电点之间脚距相同的通孔，各探针穿越探针定位板(2)上的通孔；探针为螺圈弹簧(3)，各弹簧(3)的上端与被测集成电路(4)电连接，下端与测试印刷电路板(5)电连接。或者，各探针包括触针(6)和螺圈弹簧(3)，触针(6)一端设置有头形，与被测集成电路(4)或者测试印刷电路板(5)电连接，该触针(6)的另一端与弹簧(3)一端接触；相应地，弹簧(3)另一端与测试印刷电路板(5)或者被测集成电路(4)电连接。本实用新型的技术效果在于：所用探针结构简单，不仅成本极低，而且可以用于测试小间距的集成电路。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 集成电路 测试 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于集成电路测试的装置，包括压紧部件(1)、探针定位板(2)和探针，该探针定位板(2)上有与被测集成电路(4)各导电点之间脚距相同的通孔，各探针穿越所述探针定位板(2)上的通孔；其特征在于：所述探针为螺圈弹簧(3)，所述各弹簧(3)的上端与被测集成电路(4)电连接，下端与测试印刷电路板(5)电连接。
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