[实用新型]一种二极管寿命测试仪有效

专利信息
申请号: 200720122630.1 申请日: 2007-08-31
公开(公告)号: CN201096866Y 公开(公告)日: 2008-08-06
发明(设计)人: 吴志毅 申请(专利权)人: 比亚迪股份有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 深圳创友专利商标代理有限公司 代理人: 江耀纯
地址: 518119广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公告了一种二极管寿命测试仪,包括温度试验箱、电源提供模块、负载、电性能采集模块和主控装置;待测二极管置于温度试验箱内,温度试验箱为待测二极管提供加速老化环境;电源提供模块、负载和待测二极管串联形成测试回路;电性能采集模块连接在待测二极管与主控装置之间,电性能采集模块采集待测二极管在通有电源时的反馈电信号并输出至主控装置,主控装置接收、分析反馈电信号以得出测试结果。本实用新型可以对不同公司的、不同时期所开发的各种型号的二极管进行寿命测试,而且测试结果具有可比性、可追溯性,具有很高的经济效益。
搜索关键词: 一种 二极管 寿命 测试仪
【主权项】:
1.一种二极管寿命测试仪,其特征在于:包括温度试验箱、电源提供模块、负载、电性能采集模块和主控装置;所述待测二极管置于所述温度试验箱内,所述温度试验箱为待测二极管提供加速老化环境;所述电源提供模块、负载和待测二极管串联形成测试回路;所述电性能采集模块连接在待测二极管与主控装置之间,所述电性能采集模块采集待测二极管在通有电源时的反馈电信号并输出至主控装置,所述主控装置接收、分析所述反馈电信号以得出测试结果。
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