[实用新型]共轴式棒材检测升降装置无效

专利信息
申请号: 200720199846.8 申请日: 2007-12-10
公开(公告)号: CN201163178Y 公开(公告)日: 2008-12-10
发明(设计)人: 黄仁勇 申请(专利权)人: 大阔科技股份有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 戈泊
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种共轴式棒材检测升降装置,包括一X轴导螺杆、一Y轴导螺杆、一螺座、一升降式检测取料装置,其中,X轴导螺杆及Y轴导螺杆系以垂直交叉状穿置于螺座,该Y轴导螺杆与螺座内部螺合,而X轴导螺杆与螺座枢设,所述升降式检测取料装置是螺合于X轴导螺杆上,启动一设于Y轴导螺杆一端的驱动马达,可以使螺座连同X轴导螺杆、升降式检测取料装置沿着Y轴导螺杆的轴向位移,又启动一设于X轴导螺杆一端的驱动马达,可以使升降式检测取料装置位移,以通过一影像对位检测机构及一取料机构同时位于一欲检测的棒材、一完成检测棒材上方,以达到缩短检测作业时间的目的。
搜索关键词: 共轴式棒材 检测 升降 装置
【主权项】:
1、一种共轴式棒材检测升降装置,其特征在于,包括:一X轴导螺杆,其区分成二段,分别为一光滑段、一螺杆段,X轴导螺杆的其中一端设有一驱动马达;一Y轴导螺杆,该Y轴导螺杆的其中一端连结于一驱动马达;一螺座,系供Y轴导螺杆穿置螺设,且供X轴导螺杆的光滑段穿置枢设,Y轴导螺杆与X轴导螺杆垂直交叉,并且呈上下分开设置;一升降式检测取料装置,系设于X轴导螺杆的螺杆段上,其包括可升降的一影像对位检测机构及一取料机构。
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