[发明专利]成膜方法和基板处理装置无效

专利信息
申请号: 200780000953.6 申请日: 2007-08-07
公开(公告)号: CN101346802A 公开(公告)日: 2009-01-14
发明(设计)人: 成嶋健索;天野文贵;若林哲 申请(专利权)人: 东京毅力科创株式会社
主分类号: H01L21/285 分类号: H01L21/285;C23C16/34;C23C16/14;H01L21/28
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 刘春成
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种成膜方法和基板处理装置,使得在低温下也能够高效率地形成含有优质的Ti膜的阻挡层,在该Ti膜与基底的界面区域能够形成自调整的TiSix膜。在形成上述TiSix膜(507)的工序中,不向处理室导入氩气地多次重复下述工序:向处理室导入钛化合物气体,使上述钛化合物气体吸附在Si基板(502)的Si表面上的第一工序;停止向处理室导入钛化合物气体,除去残留在处理室内的钛化合物气体的第二工序;和向处理室导入氢气,并在处理室内形成等离子体,对吸附于Si表面的钛化合物气体进行还原,同时使其与Si表面的硅反应,形成TiSix膜(507)的第三工序。
搜索关键词: 方法 处理 装置
【主权项】:
1.一种成膜方法,是在处理室内,在被处理基板上形成钛膜或钛化合物膜的成膜方法,其特征在于,具有:在所述被处理基板上形成硅化钛膜的硅化钛膜形成工序;和在所述硅化钛膜上形成钛膜的钛膜形成工序,所述硅化钛膜形成工序中,多次重复下述工序:向所述处理室导入钛化合物气体,使所述钛化合物气体吸附于所述被处理基板的表面的第一工序;停止向所述处理室导入所述钛化合物气体,除去残留在所述处理室内的所述钛化合物气体的第二工序;和向所述处理室导入氢气,并在所述处理室内生成等离子体,对吸附于所述被处理基板的含硅表面的所述钛化合物气体进行还原,同时使其与所述含硅表面的硅反应,形成硅化钛膜的第三工序,所述钛膜形成工序中,多次重复下述工序:将所述钛化合物气体和所述氢气导入所述处理室,并在所述处理室内生成等离子体,在所述被处理基板上形成钛膜的第四工序;和维持所述等离子体,并停止向所述处理室导入所述钛化合物气体,对所述钛膜进行等离子体退火的第五工序。
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