[发明专利]成膜方法和基板处理装置无效
申请号: | 200780000953.6 | 申请日: | 2007-08-07 |
公开(公告)号: | CN101346802A | 公开(公告)日: | 2009-01-14 |
发明(设计)人: | 成嶋健索;天野文贵;若林哲 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | H01L21/285 | 分类号: | H01L21/285;C23C16/34;C23C16/14;H01L21/28 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 刘春成 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种成膜方法和基板处理装置,使得在低温下也能够高效率地形成含有优质的Ti膜的阻挡层,在该Ti膜与基底的界面区域能够形成自调整的TiSix膜。在形成上述TiSix膜(507)的工序中,不向处理室导入氩气地多次重复下述工序:向处理室导入钛化合物气体,使上述钛化合物气体吸附在Si基板(502)的Si表面上的第一工序;停止向处理室导入钛化合物气体,除去残留在处理室内的钛化合物气体的第二工序;和向处理室导入氢气,并在处理室内形成等离子体,对吸附于Si表面的钛化合物气体进行还原,同时使其与Si表面的硅反应,形成TiSix膜(507)的第三工序。 | ||
搜索关键词: | 方法 处理 装置 | ||
【主权项】:
1.一种成膜方法,是在处理室内,在被处理基板上形成钛膜或钛化合物膜的成膜方法,其特征在于,具有:在所述被处理基板上形成硅化钛膜的硅化钛膜形成工序;和在所述硅化钛膜上形成钛膜的钛膜形成工序,所述硅化钛膜形成工序中,多次重复下述工序:向所述处理室导入钛化合物气体,使所述钛化合物气体吸附于所述被处理基板的表面的第一工序;停止向所述处理室导入所述钛化合物气体,除去残留在所述处理室内的所述钛化合物气体的第二工序;和向所述处理室导入氢气,并在所述处理室内生成等离子体,对吸附于所述被处理基板的含硅表面的所述钛化合物气体进行还原,同时使其与所述含硅表面的硅反应,形成硅化钛膜的第三工序,所述钛膜形成工序中,多次重复下述工序:将所述钛化合物气体和所述氢气导入所述处理室,并在所述处理室内生成等离子体,在所述被处理基板上形成钛膜的第四工序;和维持所述等离子体,并停止向所述处理室导入所述钛化合物气体,对所述钛膜进行等离子体退火的第五工序。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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