[发明专利]跟踪方法以及配有激光跟踪仪的测量系统有效
申请号: | 200780002284.6 | 申请日: | 2007-01-04 |
公开(公告)号: | CN101371160A | 公开(公告)日: | 2009-02-18 |
发明(设计)人: | J·多尔德;D·莫瑟;R·朱姆布伦 | 申请(专利权)人: | 莱卡地球系统公开股份有限公司 |
主分类号: | G01S17/66 | 分类号: | G01S17/66;G01C15/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 卢江;魏军 |
地址: | 瑞士希*** | 国省代码: | 瑞士;CH |
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摘要: | 本测量系统具有激光跟踪仪(10)、用反射器(12)标记的目标点、环视装置(13)及计算和控制单元(14)。激光跟踪仪发射测量光束(M),由反射器反射测量光束,这用来确定激光跟踪仪(10)与反射器(12)间的距离。环视装置具有相对于测量光束(M)已知的位置和取向且是环视摄像机。该测量系统用来通过测量光束(M)跟踪反射器(12)。在正常跟踪模式(A)下,从对由反射器(12)反射的测量光束的探测得出用于控制测量光束(M)定向的测量参量。如果测量光束未对准反射器,即未被其反射且由此激光跟踪仪不能探测到反射的测量光束,系统切换到异常跟踪模式,其中根据环视摄像机(13)的图像(20)得出用来控制测量光束(M)定向的测量参量。 | ||
搜索关键词: | 跟踪 方法 以及 配有 激光 测量 系统 | ||
【主权项】:
1.跟踪方法,其中由激光跟踪仪(10)的测量光束(M)来跟踪配有反射器(12)的目标点;其中在正常跟踪模式(A)下,根据对由反射器(12)所反射的测量光束的探测得出用于控制测量光束(M)定向的测量参量,其特征在于,另外在异常跟踪模式(B)下根据由环视装置(13)所记录的数据得出用于控制测量光束(M)定向的测量参量,其中所述环视装置(13)具有相对于测量光束(M)已知的位置和取向,并且其中如果没有探测到由反射器(12)所反射的测量光束,则激活异常跟踪模式(B)。
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