[发明专利]扫描型曝光装置、微元件的制造方法、光掩模、投影光学装置以及光掩模的制造方法有效

专利信息
申请号: 200780005789.8 申请日: 2007-03-16
公开(公告)号: CN101384968A 公开(公告)日: 2009-03-11
发明(设计)人: 加藤正纪 申请(专利权)人: 株式会社尼康
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;G02B13/14;G02B13/24;G02B17/08;G03F1/08
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 代理人: 寿 宁
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种扫描型曝光装置,使用配置于扫描方向前方侧的第1投影光学系统PL2及配置于扫描方向后方侧的第2投影光学系统PL1,一边改变第1投影光学系统及第2投影光学系统与第1物体M及第2物体P在扫描方向上的位置关系,一边将第1物体的图案转印曝光至第2物体上,且第1投影光学系统及第2投影光学系统分别将第1物体上的视场内的放大像形成于第2物体上的像场内,当将第1投影光学系统及第2投影光学系统的视场的中心彼此在扫描方向上的间隔设为Dm,将第1投影光学系统及第2投影光学系统的像场的中心彼此在上述扫描方向上的间隔设为Dp,且将第1投影光学系统及第2投影光学系统各自的投影倍率设为β时,满足Dp<Dm×|β|(其中,|β|>1)。
搜索关键词: 扫描 曝光 装置 元件 制造 方法 光掩模 投影 光学 以及
【主权项】:
1. 一种扫描型曝光装置,使用配置于扫描方向前方侧的第1投影光学系统及配置于上述扫描方向后方侧的第2投影光学系统,一边改变上述第1投影光学系统及上述第2投影光学系统与第1物体及第2物体在上述扫描方向上的位置关系,一边将上述第1物体的图案曝光转印在上述第2物体上,上述扫描型曝光装置的特征在于:上述第1投影光学系统及上述第2投影光学系统,分别将第1物体上的视场内的放大像形成于第2物体上的像场内,当将上述第1投影光学系统及上述第2投影光学系统的上述视场的中心彼此在上述扫描方向上的间隔设为Dm,将上述第1投影光学系统及上述第2投影光学系统的上述像场的中心彼此在上述扫描方向的间隔设为Dp,且将上述第1投影光学系统及上述第2投影光学系统各自的投影倍率设为β时,满足Dp1)。
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