[发明专利]具有遮光机构的分析装置无效
| 申请号： | 200780009009.7 | 申请日： | 2007-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN101400985A | 公开（公告）日： | 2009-04-01 |
| 发明（设计）人： | 上畑义治 | 申请（专利权）人： | 爱科来株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/59;G01N35/04;G01N21/78 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 李香兰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种分析装置，包括：具有插入口(43)，并且用于安装分析用具(20)的安装部；为了通过光学的手法进行试料的分析，而对分析用具(20)照射光并接收从分析用具(20)到来的光的测光机构(22、23)；用于限制来自插入口(43)的外部光的入射的遮光机构(63)。遮光机构(63)从分析用具(20)相对于安装部的插入开始，到在测光机构(22、23)中分析用具(20)的测光结束的期间，限制来自插入口(43)的外部光的入射地构成。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 遮光 机构 分析 装置 | ||
【主权项】：
1. 一种具有遮光机构的分析装置，其中，包括：安装部，其具有插入口，并且用于安装分析用具；测光机构，其为了通过光学的手法进行试料的分析，而对所述分析用具进行光照射，并用于对从所述分析用具行进而来的光进行受光；遮光机构，其用于限制来自所述插入口的外部光的入射，所述遮光机构，构成为，在从所述分析用具针对所述安装部的的插入开始起到在所述测光机构中所述分析用具的测光结束的期间，限制通过所述插入口的外部光的入射。
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