[发明专利]使用不同电压的用于非易失性存储装置的检验操作有效

专利信息
申请号: 200780009455.8 申请日: 2007-05-23
公开(公告)号: CN101405814A 公开(公告)日: 2009-04-08
发明(设计)人: 格里特·简·赫民克 申请(专利权)人: 桑迪士克股份有限公司
主分类号: G11C16/34 分类号: G11C16/34;G11C16/04
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 代理人: 刘国伟
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 当在编程非易失性存储元件期间(或在一些情况下,在编程之后的读取操作期间)执行数据感测操作(包括检验操作)时,将第一电压(Vrd1)用于已受到编程操作的非选定字线(464、466、468),且将第二电压(Vrd2)用于尚未受到编程操作的非选定字线(472、474、476、478)。在一些实施例中,所述第二电压低于所述第一电压。
搜索关键词: 使用 不同 电压 用于 非易失性 存储 装置 检验 操作
【主权项】:
1.一种用于使用非易失性存储装置的方法,其包含:将特定电压施加到一群组经连接的非易失性存储元件中的特定非易失性存储元件;将第一电压施加到所述群组中自从上一相关擦除以来已经受到一个或一个以上编程过程的一个或一个以上非易失性存储元件,在施加所述特定电压的同时施加所述第一电压;将第二电压施加到所述群组中自从所述上一相关擦除以来尚未受到编程过程的两个或两个以上非易失性存储元件,在施加所述特定电压的同时施加所述第二电压;和响应于所述特定电压的所述施加,感测与所述特定非易失性存储元件相关的状况。
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