[发明专利]对于由表面张力保持的多个样本进行光学测量的仪器无效

专利信息
申请号: 200780010166.X 申请日: 2007-03-15
公开(公告)号: CN101405591A 公开(公告)日: 2009-04-08
发明(设计)人: 查尔斯·威廉·罗伯逊;托马斯·A·托卡什;保罗·S·蒂纳克 申请(专利权)人: 纳诺多普科技有限责任公司
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 代理人: 王 漪;王继长
地址: 美国特*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明是一种用来对由相对光纤之间的表面张力容纳的众多纳滴样本进行多通道分光镜测量的配装,其中横跨接收、检测纤维被间隔的线性阵列来扫描一个单独的纤维。
搜索关键词: 对于 表面张力 保持 样本 进行 光学 测量 仪器
【主权项】:
1.一种用来对由表面张力包容的众多微升样本进行光学测量的仪器10包括:用于包容多个微升样本的装置,所述样本由多个供给光纤14的相对近端22和等量多的接收/检测光纤26的近端30之间的表面张力所包容,所述各端是基本平行、间隔开的关系,并在每个相对的纤维端上被弄湿的区域之间建立起柱状的光学路径用来测量信号;用于向供给纤维14的远端供给光线的装置12;用于以被间隔的阵列支撑接收/检测纤维26的远端的装置38;用于横跨接收/检测纤维26被间隔的远端48扫描单独的扫描纤维34的近端的装置32;以及连接到单独的扫描纤维34远端上的装置36,用于接收通过扫描纤维34传输的信号并在其上进行光学测量。
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