[发明专利]光纤温度分布测量装置、光纤温度分布测量方法以及光纤温度分布测量系统有效
| 申请号： | 200780014614.3 | 申请日： | 2007-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN101427117A | 公开（公告）日： | 2009-05-06 |
| 发明（设计）人： | 米田英彦;伊木刚;小谷野裕史;大久保文义;根岸司明 | 申请（专利权）人： | 日本电力电线电缆株式会社;住友电气工业株式会社 |
| 主分类号： | G01K11/12 | 分类号： | G01K11/12 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 雒运朴;李 伟 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供光纤温度分布测量装置、光纤温度分布测量方法以及光纤温度分布测量系统。该光纤温度分布测量装置具有：光源，其将脉冲光入射到被测量光纤；信号检测部，其检测出基于上述脉冲光的入射在上述被测量光纤内产生的后方散射光中所包含的规定的光的感光强度；信号处理部，其基于上述规定的光的感光强度，计算出与由上述被测量光纤的氢分子吸收产生的感光强度的变化量相应的值，并基于上述值，修正与上述被测量光纤的温度相应的上述规定的光的感光强度。 | ||
| 搜索关键词： | 光纤 温度 分布 测量 装置 测量方法 以及 系统 | ||
【主权项】：
1. 一种光纤温度分布测量装置，其特征在于，具有：光源，其将脉冲光入射到被测量光纤；信号检测部，其检测出基于上述脉冲光的入射在上述被测量光纤内产生的后方散射光中所包含的规定的光的感光强度；信号处理部，其基于上述规定的光的感光强度，计算出与由上述被测量光纤的氢分子吸收产生的感光强度的变化量相应的值，并基于上述值，修正与上述被测量光纤的温度相应的上述规定的光的感光强度。
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