[发明专利]单片欧浮纳分光计有效
| 申请号： | 200780015125.X | 申请日： | 2007-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN101432605A | 公开（公告）日： | 2009-05-13 |
| 发明（设计）人： | L·E·科默斯科特二世 | 申请（专利权）人： | 康宁股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28;G01J3/02;G01J3/18 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 沙永生 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明描述了单片欧浮纳分光计，以及各种部件如衍射光栅和狭缝，所有这些部件都采用现有技术的金刚石加工方法来制造。在一个实施方式中，单片欧浮纳分光计直接使用金刚石加工方法制造。在另一个实施方式中，单片欧浮纳分光计使用由金刚石加工方法制得的模具来制造。在另一个实施方式中，衍射光栅直接使用金刚石加工方法制造。在另一个实施方式中，衍射光栅使用由金刚石加工方法制得的模具来制造。在另一个实施方式中，狭缝直接使用金刚石加工方法制造。 | ||
| 搜索关键词： | 单片 欧浮纳 分光计 | ||
【主权项】：
1. 一种高光谱成像系统，包括：外壳；与所述外壳连接的狭缝；与所述外壳连接的探测器；以及设置在所述外壳内的单片欧浮纳分光计。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于康宁股份有限公司，未经康宁股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200780015125.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于组分颗粒分析的光谱方法
- 下一篇：照度传感器和电子设备
