[发明专利]专用探针卡测试系统的设计方法无效
| 申请号： | 200780021836.8 | 申请日： | 2007-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN101501512A | 公开（公告）日： | 2009-08-05 |
| 发明（设计）人： | C·A·米勒;M·E·克拉弗特;R·J·汉森 | 申请（专利权）人： | 佛姆法克特股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 侯颖媖 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 提供了一种用晶片测试系统中的单板可编程控制器对探针卡进行设计和编程的方法。在CAD晶片布局和探针卡设计过程中，包括了可编程控制器的引入考虑。CAD设计可以进一步被载入可编程控制器中，比如FPGA，从而对其进行编程：(1)控制信号到特定IC的方向，即使是在测试过程中；(2)产生测试矢量信号以便提供给IC；以及(3)接收测试信号，并且处理来自接收到的信号的测试结果。在一些实施方式中，只提供老化测试，以限制所需的测试系统电路，使得通过使用探针卡上的可编程控制器，可以从常规测试设备中消除在探针卡外部的文本设备或者使其显著地减少。 | ||
| 搜索关键词： | 专用 探针 测试 系统 设计 方法 | ||
【主权项】：
1. 一种对测试系统进行编程以执行集成电路(IC)测试的方法，所述方法包括：向探针卡上的存储器提供代码，所述探针卡包括多个探针，所述代码可以被探针卡上的可编程控制器读取，以便控制从测试系统控制器的通道通过探针向IC提供测试信号的过程，其中测试系统控制器的通道与多个探针之间的互连关系是可以通过代码进行配置的。
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