[发明专利]多管成像系统散射校正有效
| 申请号： | 200780022974.8 | 申请日： | 2007-06-13 |
| 公开（公告）号： | CN101472524A | 公开（公告）日： | 2009-07-01 |
| 发明（设计）人： | B·戴维;M·格拉斯;A·F·莱瓦尔特;R·皮蒂格 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 王 英 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 一种计算机断层摄影重建方法包括从至少两个X射线源(14)同时发射辐射，在多个分别的交叉散射采样间隔(50，52，54，56)内切换所述至少两个X射线源(14)中每一个的输出状态，并用相应的一组探测器(24)探测由所述至少两个X射线源(14)中其他的所发射的交叉散射辐射，其中，交叉散射采样间隔在多个帧上有角间距，以允许至少两个X射线源(14)贯穿至少一个帧同时发射辐射，从相应的交叉散射样本中导出每组探测器(24)的散射校正数据，用相应的散射校正数据对投影数据进行散射校正，以及对散射校正后的投影数据进行重建进而生成至少一幅图像。 | ||
| 搜索关键词： | 成像 系统 散射 校正 | ||
【主权项】：
1、一种计算机断层摄影重建方法，包括：从围绕成像区域(22)旋转的至少两个X射线源(14)同时发射辐射通过所述成像区域(22)，并用相应的各组探测器(24)探测投影数据，所述投影数据包括由所述至少两个X射线源(14)中相应的一个发射的原发辐射和由所述至少两个X射线源(14)中另一个发射的交叉散射辐射；在多个分别的交叉散射采样间隔(50，52，54，56)内切换所述至少两个X射线源(14)中每一个的输出状态，并用所述各组探测器(24)中相应的一组探测由所述至少两个X射线源(14)中其他的所发射的交叉散射辐射，其中，所述交叉散射采样间隔在多个帧上有角间距，以允许所述至少两个X射线源(14)贯穿至少一个帧同时发射辐射；从相应的交叉散射样本中导出每组探测器(24)的散射校正数据；用相应的散射校正数据来散射校正所述投影数据；以及重建所述散射校正后的投影数据来生成至少一幅图像。
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