[发明专利]高硅含量的薄膜热固性材料无效

专利信息
申请号: 200780023234.6 申请日: 2007-06-20
公开(公告)号: CN101472996A 公开(公告)日: 2009-07-01
发明(设计)人: D·J·阿卜杜拉;张汝志 申请(专利权)人: AZ电子材料美国公司
主分类号: C08L83/04 分类号: C08L83/04;C08L83/06;C08L83/08;C09D183/04;C09D183/06;C09D183/08;G03F7/09;G03F7/075
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 刘明海
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了可以用来形成薄膜热固性材料的高硅含量的树脂组合物,该薄膜热固性材料可用于形成低k介电常数材料和以及用于光刻工业的具有抗反射性能的硬掩模材料。
搜索关键词: 含量 薄膜 热固性 材料
【主权项】:
1. 一种组合物,包含:(a)包含至少一种通式((A)jR1SiO(3-j)/2)的重复单元和至少一种通式((A)kR2SiO(3-k)/2)的重复单元的聚合物,其中每个R1单独地是在任何光化波长下吸收的相同或不同的发色团;每个R2单独地选自氢、烷基、烯基、环烷基和芳烷基;每个A是形成上述重复单元中任一的单体的未反应官能团;j和k各自是落入0≤j≤1和0≤k≤1的范围内的整数,R1与R2的比为约1:99至约60:40;(b)卤化物源;和(c)溶剂。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于AZ电子材料美国公司,未经AZ电子材料美国公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200780023234.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top