[发明专利]在磨碎装置中探测粒料的量的方法有效
| 申请号： | 200780024266.8 | 申请日： | 2007-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN101478903A | 公开（公告）日： | 2009-07-08 |
| 发明（设计）人： | F·博洛涅西;M·米拉尔迪;R·齐亚尼 | 申请（专利权）人： | 塞可IPR有限公司 |
| 主分类号： | A47J42/38 | 分类号： | A47J42/38;A47J31/40 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 朱德强 |
| 地址： | 爱尔兰*** | 国省代码： | 爱尔兰;IE |
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| 摘要： | 本文描述一种在转动磨碎部件的容器中探测粒料的量的方法，所述方法包括步骤：在磨碎循环(CM)的第一间隔(T1)期间，将第一驱动转矩供应(FORP1)给转动磨碎部件；具有(CTM100)指示在第一驱动转矩的所述部件的转动时段的第一值；在所述循环的第二间隔(T2)期间，将比第一驱动转矩小的第二驱动转矩供应给转动磨碎部件(RP2)；测量(CTM50)指示在第二驱动转矩的所述部件的相对转动时段的第二值；处理(CDTR、CNFR)第一值和第二值，以便产生指示在容器内粒料的量的信息(ALR)。 | ||
| 搜索关键词： | 磨碎 装置 探测 方法 | ||
【主权项】：
1. 一种在转动磨碎部件(MC)的容器中探测粒料的量的方法，所述方法包括步骤：-在磨碎循环(CM)的第一间隔(T1)期间，将第一驱动转矩供应给(FORP1)转动磨碎部件；-具有(CTM100)指示在第一驱动转矩下的所述转动磨碎部件的转动时段的第一值；-在所述循环的第二间隔(T2)期间，将比第一驱动转矩小的第二驱动转矩供应给(RP2)转动磨碎部件；-测量(CTM50)指示在第二驱动转矩下的所述转动磨碎部件的相对转动时段的第二值；-处理(CDTR、CNFR)第一值和第二值，用于产生指示在容器内粒料的量的信息(ALR)。
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