[发明专利]成像装置及方法无效
申请号: | 200780024348.2 | 申请日: | 2007-06-28 |
公开(公告)号: | CN101479594A | 公开(公告)日: | 2009-07-08 |
发明(设计)人: | 甘泰衡;D·亚瑟·郝琴;G·格雷厄姆·戴蒙 | 申请(专利权)人: | 华威大学 |
主分类号: | G01N21/47 | 分类号: | G01N21/47;A61B5/00 |
代理公司: | 北京申翔知识产权代理有限公司 | 代理人: | 周春发 |
地址: | 英国考*** | 国省代码: | 英国;GB |
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摘要: | 一种用于探查物体的装置,包括:控制器,配置为生成具有周期幅值变化的驱动信号;源,可由控制器操作以发射源束,从而照射物体,所述源束包括具有周期幅值变化的电磁射线束,其周期幅值变化响应于驱动信号的周期幅值变化;检测器,被配置为检测已经被射出穿过至少物体的一部分的源束的一部分,并生成响应于所述源束的所述部分的幅值变化而具有幅值变化的检测器信号;所述控制器被进一步配置为响应于检测器信号和参考信号间幅值的不同,而生成不同的值。 | ||
搜索关键词: | 成像 装置 方法 | ||
【主权项】:
1、一种用于探查物体的装置,包括:控制器,配置为生成具有周期幅值变化的驱动信号;源,可由控制器操作以发射源束,从而照射物体,所述源束包括具有周期幅值变化的电磁射线束,其周期幅值变化响应于驱动信号的周期幅值变化;检测器,被配置为检测已经被射出穿过至少物体的一部分的源束的一部分,并生成响应于所述源束的所述部分的幅值变化而具有幅值变化的检测器信号;所述控制器被进一步配置为响应于检测器信号和参考信号间幅值的不同,而生成不同的值。
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