[发明专利]碱式碳酸镧的检定法无效
| 申请号： | 200780024593.3 | 申请日： | 2007-02-01 |
| 公开（公告）号： | CN101484798A | 公开（公告）日： | 2009-07-15 |
| 发明（设计）人： | D·哈伦贝克;S·贝茨 | 申请（专利权）人： | 夏尔国际许可有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 | 代理人： | 林柏楠;黄革生 |
| 地址： | 荷兰阿*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明提供了分析测定固体样品中的杂质量用的检定法。这种X-射线衍射法优选使用rietveld精修。 | ||
| 搜索关键词： | 碳酸 检定 | ||
【主权项】：
1. 检定具有至少一种已知杂质的稀土化合物的纯度的方法，其中盐或杂质中至少一种是在含水介质中离解的化合物，该方法包括：(i)获得该盐的X-射线衍射图；(ii)获得至少两个含有所述杂质的参照样品；(iii)获得参照样品的至少两个X-射线衍射图；和(iv)对X-射线衍射图进行Rietveld分析，以获得：来自参照样品的检出限、最小定量限(MQL)和/或分析上限和由稀土化合物图预测的杂质浓度值。
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