[发明专利]光电二极管阵列有效
申请号: | 200780025307.5 | 申请日: | 2007-07-03 |
公开(公告)号: | CN101484999A | 公开(公告)日: | 2009-07-15 |
发明(设计)人: | 山村和久;里健一 | 申请(专利权)人: | 浜松光子学株式会社 |
主分类号: | H01L31/107 | 分类号: | H01L31/107;H01L27/14 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 | 代理人: | 龙 淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 光电二极管阵列(1),由使被检测光入射的多个光检测通道(10)形成于具有n型半导体层(12)的n型的基板(2)而形成。光电二极管阵列(1)具备:在基板(2)的n型半导体层(12)上形成的p-型半导体层(13)、设在每个光检测通道(10)且一端部连接于信号导线(3)的电阻(4)、以及在多个光检测通道(10)之间形成的n型分离部(20)。p-型半导体层(13)在与基板(2)的界面构成pn结,对应于光检测通道,具有使因被检测光的入射而产生的载流子雪崩倍增的多个倍增区域(AM)。形成分离部(20),使得p-型半导体层(13)的各倍增区域(AM)对应于各光检测通道(10)而形成。 | ||
搜索关键词: | 光电二极管 阵列 | ||
【主权项】:
1. 一种光电二极管阵列,其特征在于,由使被检测光入射的多个光检测通道形成于具有第1导电型的半导体层的基板而形成,该光电二极管阵列具备:所述基板;第2导电型的外延半导体层,形成于所述基板的第1导电型的所述半导体层上,在与该半导体层的界面构成pn结,并且,具有使因所述被检测光的入射而产生的载流子雪崩倍增的多个倍增区域,该各倍增区域和所述各光检测通道相互对应;以及多个电阻,具有2个端部,设在每个所述光检测通道,经由一所述端部而与所述外延半导体层电连接,并且经由另一所述端部而连接于信号导线。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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