[发明专利]光学测距方法和相应的光学测距装置有效

专利信息
申请号: 200780026874.2 申请日: 2007-07-13
公开(公告)号: CN101490579A 公开(公告)日: 2009-07-22
发明(设计)人: 克努特·西尔克斯 申请(专利权)人: 莱卡地球系统公开股份有限公司
主分类号: G01S17/10 分类号: G01S17/10;G01C3/06;G01C15/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 黄纶伟
地址: 瑞士海*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要: 为了推导到目标物的距离,在至少包括向目标物上发射至少一光信号的发射步骤和检测被该目标物漫反射的光信号(6)的检测步骤的光电测距方法中,在检测低和高动态范围时针对同一光信号(6)并行地使用不同检测方法,其中,该高动态范围由阈值方法来检测,而该低动态范围通过用于识别漫反射的光信号(6)并在时间上确定该光信号的位置的信号采样来检测。
搜索关键词: 光学 测距 方法 相应 装置
【主权项】:
1、一种测距方法,该测距方法至少包括以下步骤:·向目标物(5)发射至少一种光信号,具体地说是激光;·检测被所述目标物(5)漫反射的所述光信号(6);·推导到所述目标物(5)的距离;其特征在于,在检测低动态范围和高动态范围时针对同一所述光信号(6)并行地、具体地说是同时地使用不同的检测方法,其中,-所述高动态范围由阈值方法来检测,而-所述低动态范围由用于识别漫反射的所述光信号(6)并在时间上确定该光信号的位置的信号采样来检测。
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