[发明专利]使用消逝场激发的辐射探测器无效
| 申请号： | 200780027389.7 | 申请日： | 2007-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN101490534A | 公开（公告）日： | 2009-07-22 |
| 发明（设计）人： | D·J·W·克隆德;M·M·J·W·范赫佩恩;M·L·M·巴利斯特雷里;M·W·G·蓬吉;M·T·约翰逊 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N15/14;C12Q1/68;B01L3/00;G01N33/551 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 王 英 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 一种用于当至少一个样品(108)受到入射激发辐射激发时，探测来自所述至少一个样品(108)的发光的探测系统(100、150、180、200、220、250)。探测发光能够探测例如生物、化学或生化颗粒。探测系统(100、150、180、200、220、250)包括具有至少第一表面(104)的至少一个光学部件(102)。将至少一个光学部件(102)的第一表面(104)定位为对入射激发辐射进行内反射，从而在至少一个光学部件(102)外部生成消逝场以对至少一个样品(108)进行激发。探测系统还包括至少一个探测器元件(110)，所述探测器元件与至少一个光学部件(102)直接接触，以便探测来自至少一个激发样品(108)的通过至少一个光学部件(102)的发光。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 消逝 激发 辐射 探测器 | ||
【主权项】：
1、一种用于当至少一个样品(108)受到入射激发辐射激发时，探测来自所述至少一个样品(108)的发光的探测系统(100、150、180、200、220、250)，所述探测系统(100、150、180、200、220、250)包括具有至少第一表面(104)的至少一个光学部件(102)和至少一个探测器元件(110)，其中所述至少一个光学部件(102)的所述第一表面(104)被定位成对入射激发辐射进行全内反射，从而在所述至少一个光学部件(102)外部生成用于激发所述至少一个样品(108)的消逝场，以及所述至少一个探测器元件(110)与所述至少一个光学部件(102)直接接触，以探测来自至少一个受激发样品(108)的通过所述至少一个光学部件(102)的发光。
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