[发明专利]基于散射辐射分数的X-射线探测器增益校准有效
| 申请号： | 200780027404.8 | 申请日： | 2007-07-10 |
| 公开（公告）号： | CN101489486A | 公开（公告）日： | 2009-07-22 |
| 发明（设计）人： | J·蒂默;P·G·范德哈尔 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 刘炳胜 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明公开一种用于二维X-射线探测器(315)的增益校准，其中单独地测量或估计用于散射辐射(307b)和直射辐射(307a)的增益系数。可以将加权平均应用到适当的散射分数。依赖于散射分数的增益校准方法与公知的增益校准方法相比，在X-射线图像中产生了更少的环型伪影，该公知的增益校准方法没有考虑到达所述X-射线探测器(315)的散射辐射的所述分数。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 散射 辐射 分数 射线 探测器 增益 校准 | ||
【主权项】：
1、一种用于确定表示二维X-射线探测器(115，215，315)的增益系数的增益数据集的方法，所述二维X-射线探测器(115，215，315)特别是用于医学X-射线成像的二维X-射线探测器阵列(115，215，315)，所述方法包括以下步骤：提供表示第一X-射线图像(G(x，y))的第一增益数据集，所述第一X-射线图像(G(x，y))由直射的X-辐射(307a)产生，所述直射的X-辐射(307a)从X-射线源(105，205，305)发射并且在不存在感兴趣的对象(110，210，310)的情况下由所述X-射线探测器(115，215，315)探测；获得表示第二X-射线图像的第二增益数据集，所述第二X-射线图像基于散射的X-辐射(307b)，所述散射的X-辐射(307b)从所述X-射线源(105，205，305)发射并且在存在预定对象(110，210，310)的情况下由所述X-射线探测器(115，215，315)探测；以及使所述第一增益数据集与所述第二增益数据集结合以给出所述增益数据集。
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